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목적 : 이중샤임플러그 방식과 빛간섭단층촬영 방식, 세극등 방식을 이용한 세 가지의 각막지형도 검사 수치들의 일치도를 분석하고 비교한다.
방법 : 정상안 61안과 굴절교정수술을 받은 과거력이 있는 57안의 각막에서 이중샤임플러그 방식(Galilei, Ziemer)과 빛간섭단층촬영 방식(Casia, Tomey), 세극등 방식(Orbscan, Bausch&Lomb)을 이용하여 측정한 전후면곡률과 편심률, 최적구면직경, 각막두께, 후면높이를 비교하였으며, 급간내상관계수(ICC)를 산출하여 일치도를 분석하였다.
결과 : 세 기계에서 전면곡률과 각막두께의 일치도는 높았다(ICC>0.900). 후면곡률과 후면편심률은 Galilei와 Casia에서는 일치도가 높았으나 Orbscan은 두 기계에 비하여 낮은 일치도를 보여주었다. Orbscan에서 측정한 후면곡률은 다른 두 기계에 비하여 훨씬 더 가파르게 나타났다(P<0.001). 후면높이의 일치도는 세 기계 모두 낮게 나타났다(ICC≤0.900). 최대후면높이는 Orbscan에서 가장 높게 측정되었고 (정상안38.77±9.38㎛, 굴절수술안43.84±11.20㎛), 다음으로 Casia (정상안 10.89±3.55㎛, 굴절수술안 10.72±3.89㎛), Galilei (정상안 9.20±4.43㎛, 굴절수술안 9.32±3.35㎛) 순서였다.
결론 : 세 가지 다른 각막 지형도 기계에서 측정한 전면곡률과 각막두께는 높은 일치도를 보여주었다. 하지만 후면각막의 측정에 있어서는 Galilei와 Casia가 Orbscan에 비하여 높은 일치도를 보여 주었다. 임상적인 참값이 없음을 고려할 때, 서로 다른 방식의 각막 지형도 검사 수치를 해석하는데 있어서 이와 같은 결과가 고려되어야 할 것으로 생각한다.
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