|
목적 : 전층 각막 이식술을 시행한 후 이식된 각막의 예후와 주변부 각막의 두께 사이의 연관성을 평가하고자 한다.
방법 : 2010년 10월부터 2013년 3월까지 전층 각막이식술을 시행받은 환자 111명을 대상으로 하였다. 초음파 각막두께측정기를 이용하여 각막 중심부로부터 4mm 떨어져 있는 주변부 각막을 12시, 3시, 6시, 9시의 각각 네 방향에서 측정하여 그 평균을 구하였다. 주변부 각막두께의 측정은 술 후 1년에 이루어졌다. 술 후 1년의 평균 주변부 각막 두께에 따라 111명의 환자를 세 군으로 나누었으며 각각의 군에서 이식 실패가 발생한 확률을 비교 분석하였다.
결과 : 술 후 1년의 주변부 평균 각막두께가 얇은 군(≤ 700 μm)은 40명, 중간 군(700 to 800 μm)은 38명, 두꺼운 군(>800 μm)은 33명 이었으며 각각의 군에서 이식 실패가 7명(17.5 %), 5명(13.2 %), 5명(15.2 %)에서 발생하였다. 얇은 군의 2년 생존율은 83.5 %, 중간 군의 2년 생존율은 81.5 %, 두꺼운 군의 2년 생존율은 77.6 %였으며 p=0.897로 세 군의 이식된 각막의 2년 생존율에 통계학적으로 유의한 차이가 없었다. 또한 ROC 곡선에서 주변부 평균 각막 두께는 이식 실패를 예측하는 데에 큰 진단적 가치가 없는 것으로 분석되었다.
결론 : 술 후 3개월 째의 주변부 각막 두께는 이식된 각막의 생존 여부를 예측하는 데에 중요한 인자로 활용될 수 있다.
|